Brazilian Conferences and Brazilian Journals (1994)


  1. "Formação do Siliceto de Titânio em Ambiente de Nitrogênio", A.A.M. Laganá, A.N.R. da Silva, J.W. Swart, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  2. "Estudo da Cinética de Formação do Siliceto de Titânio", A.A.M. Laganá, A.N.R. da Silva, J.W. Swart, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  3. "Influência do Substrato de Silício Policristalino na Formação do Siliceto de Titânio", A.N.R. da Silva, R. Furlan, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  4. "Estudo da Formação do Disiliceto de Cobalto em Duas Etapas Térmicas", E.W. Simões, R. Furlan, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  5. "Análise do Processo de Limpeza de Lâminas de Silício por TRXFA", N.G. Leite, C.M. Hasenack, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  6. "The Deposition and Removal of Surface Contaminants from Silicon Wafers by Means of a Diluted HF DIP Followed or not by an Isopropyl Alcohol Boil", S.G. dos S. Filho, C.M. Hasenack, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  7. "TRXFA: Uma Técnica de Análise Somente para Microeletrônica?", C.M. Hasenack, N.G. Leite, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  8. "Desenvolvimento de um Processo de Corrosão de Alumínio por Plasma de CC14 + N2", R.D. Mansano, P.B Verdonck, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  9. "Contamination Caused by Reactive Ion Etching and Subsequent Cleaning Procedures", P.B. Verdonck, R.D. Mansano, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  10. "Método Simples para a Obtenção da Densidade de Armadilhas na Primeira e Segunda Interface em SOI-MOSFET", V. Sonnenberg, J.A. Martino, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  11. "The Effect of the Temperature Cooling Rate on the Si/SiO2 Interface Roughness After Rapid Thermal Oxidation", S.G. dos S. Filho, C.M. Hasenack, M.C.V. Lopes, V. Baranauskas, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  12. "Modelamento Analítico para a Queda de Potencial no Substrato de SOI MOSFET", M.A. Pavanello, J.A. Martino, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  13. "Transistor SOI-nMOSFET Não Auto Alinhado", A.S. Nicolett, J.A. Martino, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  14. "E-beam Direct Write Using a Chemically Amplified Negative Tone Resist", A.C. Seabra, R. Jonckheere, L.V. den Hove, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  15. "Reactive Ion Etching of GaAs in CC14 - N2 Plasmas", P.B. Verdonck, J.W. Swart, R.D. Mansano, N. Ordonez, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  16. "Efeitos da Radiação em Capacitores MOS", V.L.M. Nakata, J.A. Martino, IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica, Agosto/1994
  17. "Caracterização da Rugosidade Superficial de Lâminas de Silício por Espalhamento de Luz”, J. C. de Souza Filho, F. G. Araes, S. G. dos Santos Filho e C. M. Hasenack, Anais do 2? Simpósio de Iniciação Científica USP/CNPq, Sessão OA13, novembro 1994.
  18. “Análise Teórica da Primeira Etapa do Processo de Limpeza RCA” , L. C. Salay e C. M. Hasenack, Anais do 2? Simpósio de Iniciação Científica USP/CNPq, sessão PE 27, novembro 1994
  19. “Transitores SOI (Silicon On Insulator) MOSFETS operando em Altas Temperaturas”, M. Bellodi e J. A. Martino, 2? Simpósio de Iniciação Científica - Universidade de São Paulo, São Paulo, Novembro, 1994.
  20. “Influência da Temperatura em Transistores SOI (Silicon On Insulator) MOSFETS”, M. Bellodi e J. A. Martino, XIII CICTE - Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia, USP de São Carlos, Dezembro/1994.
  21. “Um processo de limpeza para lâminas de Silício”, N. G. Leite, S. G. dos Santos Filho e C. M. Hasenack, Anais do 11? CBCIMAT, Águas de São Pedro, dezembro 1994.
  22. “Transmission Electron Microscopy Characterization of Ion Beam Sythesized Fe Si2”, J. T. dos Santos, H. Bender, Anais do Micromat 94, São Carlos (SP), 1994.



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