Sebastiao Gomes dos Santos Filho

         

 

          Endereço profissional:      Universidade de São Paulo, Escola Politécnica, Departamento de Engenharia de

                                                Sistemas Eletrônicos.

                                                E-mail: sgsantos@lsi.usp.br

 

 

          2 FORMAÇÃO ACADÊMICA/TITULAÇÃO

 

          1999                   Livre-docência.

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

                                    Título: Engenharia de Superfícies e de Interfaces Aplicada na Fabricação de Circuitos

                                    Integrados: Cinética da Oxidação Térmica Rápida do Silício e Deposição Eletroquímica de

                                    Metais.. Ano de obtenção: 1999.

          1996 - 1999         Pós-doutorado.

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

          1989 - 1996         Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital].

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

                                    Título: Oxidação Térmica Rápida do Silicio: Influência dos Procedimentos de Limpeza e dos

                                    Perfis Temporais de Temperatura na Qualidade dos Óxidos de Porta MOS. Ano de obtenção:

                                    1996.

                                    Orientador: Claus M Hasenack.

          1985 - 1988         Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital].

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

                                    Título: APLICACAO DE FILMES DE SILICETO DE TITANIO E DO ESCOAMENTO TERMICO

                                    RAPIDO DE CAMADAS DE PSG NA FABRICACAO DE CIRCUITOS INTEGRADOS NMOS.

                                    Ano de obtenção: 1988.

                                    Orientador: JACOBUS WILLIBRORDUS SWART.

          1983 - 1984         Especialização em Microeletrônica.

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

                                    Título: Acompanhamento a fabricação de dispositivos nMOS com carga em depleção.. Ano de

                                    obtenção: 1984.

                                    Orientador: João Antonio Martino.

          1980 - 1984         Graduação em Engenharia Elétrica Sp Capital.

                                    Universidade de São Paulo, USP, São Paulo, Brasil.

          1977 - 1979         Ensino Profissional de nível técnico.
                                    Colégio Liceu Coração de Jesus, LCJ, São Paulo, Brasil.

 

 

          3 ATUAÇÃO PROFISSIONAL

 

              Universidade de São Paulo - USP

 

                             

 

          4 LINHAS DE PESQUISA

 

          1                         Materiais, Processos e Dispositivos.

 

 

          5 ÁREAS DE ATUAÇÃO

 

          1                         Engenharia Elétrica, Materiais Elétricos.

          2                         Materiais Elétricos, Materiais e Componentes Semicondutores.

          3                         Materiais Elétricos, Materiais Condutores.

 

 

          6 IDIOMAS

 

          Fala:                   Espanhol (Razoavelmente), Francês (Razoavelmente), Inglês (Bem).

          Lê:                      Espanhol (Pouco), Francês (Pouco), Inglês (Bem).

          Escreve:              Espanhol (Pouco), Francês (Razoavelmente), Inglês (Bem).

 

 

          7 PRÊMIOS E TÍTULOS
          2003       Bolsa de Produtividade e m Pesquisa nível 1D, CNPq.

          2001                   Bolsa de Produtividade em Pequisa nível 2A, CNPq.

          1999                   Bolsa de Produtividade em Pesquisa nível 2B, CNPq.

          1993                   Medalha Comemorativa do Centenário de Criação da Escola Politécnicada USP, EPUSP.

 

 

          8 PRODUÇÃO CIENTÍFICA, TECNOLÓGICA E ARTÍSTICA/CULTURAL

 

              8.1 PRODUÇÃO BIBLIOGRÁFICA

 

                  8.1.1 Trabalhos completos em eventos

 

          1       ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; VALLE, Márcio de Almeida.

                  Birefringence Characterization of TiO2 Thin Films Deposited by DC Sputtering over Tilted Substrates. In:

                  19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES -

                  SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas. Proceedings of the 19th International Symposium on

                  Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2004. Pennington, New Jersey, USA: The

                  Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 207-212.

 

          2       TEXEIRA, Ricardo C; DOI, Ioshiaki; DINIZ, José Alexandre; SWART, Jacobus W; ZAKIA, M B P; SANTO

                  FILHO, Sebastiao Gomes dos. Characteristics of Polycrystalline Si(1-x)Gex Alloy Deposited in a Vertical

                  LPCVD System. In: 19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY

                  AND DEVICES - SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas. Proceedings of the 19th International

                  Symposium on Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2004. Pennington, New Jersey, USA:

                  The Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 307-311.

 

          3       NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Characterization of Thin MOS Gate

                  Oxides Grown in Pyrogenic Environment. In: 19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON

                  MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES - SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas.

                  Proceedings of the 19th International Symposium on Microelectronics Technology and Devices - SBMicro

                  2004. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 271-276.

 

          4       TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; DINIZ, José Alexandre; SWART,

                  Jacobus W. Electrical Characterization of Thin Gate Oxynitride Obtained by N+ Implantation Into

                  Polysilicon/Thermal Oxide/Silicon Structure. In: 19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON

                  MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES - SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas.

                  Proceedings of the 19th International Symposium on Microelectronics Technology and Devices - SBMicro

                  2004. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 331-336.

 

          5       SANTOS, Regis E; DOI, Ioshiaki; TEIXEIRA, Ricardo C; DINIZ, José Alexandre; SWART, Jacobus W;

                  SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Formation and Stability of Ni(Pt)Si/Poly-Si Layered Structure. In:

                  19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES -

                  SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas. Proceedings of the 19th International Symposium on

                  Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2004. Pennington, New Jersey, USA: The

                  Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 259-264.

 

          6       REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; DOI, Ioshiaki; SWART, Jacobus W.

                  Formation of Nickel Silicides onto As-doped Silicon Using a Thin Pt/Pd Interlayer. In: 19TH

                  INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES - SBMICRO

                  2004, Proceedings of the 19th International Symposium on Microelectronics Technology and Devices -

                  SBMicro 2004. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p.

                  357-362.

 

          7       HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; GOZZI, Giuliano; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Growth and

                  Morphology of Electroless Cobalt Thin Films Deposited onto Palladium Pre-activated Silicon Surfaces. In:

                  19TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES -

                  SBMICRO 2004, 2004, Porto de Galinhas. Proceedings of the 19th International Symposium on

                  Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2004. Pennington, New Jersey, USA: the

                  Electrochemical Society, Inc., 2004. v. PV04, p. 265-270.

          8       REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; DOI, Ioshiaki; SWART, Jacobus W.

                  Formation of nickel silicides onto (100) silicon wafer surfaces using a thin platinum interlayer. In: 18TH

                  INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2003, São

                  Paulo. Proceedings of the 18th International Symposium on Microelectronics Technology and Devices.

                  Pennington, New Jersey, USA: Electrochemical Soc. Inc., 2003. v. 09, p. 125-131.

 

          9       ALBUQUERQUE, Rômulo O; SEABRA, Antonio Carlos; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART,

                  Jacobus W. An Integrated Environment for Design and Fabrication of Analog CMOS Undergraduate

                  Microeletronic Projects. In: 4TH EUROPEAN WORKSHOP ON MICROELECTRONICS EDUCATION

                  EWME 2002, 2002, Vigo. Proceedings of the 4th European Workshop on Microelectronics Education.

                  marcombo Boixareu Editores/ Universidad de Vigo, 2002. v. 1, p. 217-220.

 

          10     NOGUEIRA, Willian Aurélio; TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos.

                  Diluted HNO3/HF as a final pre-oxidation cleaning step for MOS devices. In: 17TH SYMPOSIUM ON

                  MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2002, Porto Alegre. Microelectronics Technology

                  and Devices. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2002. v. PV-08, p.

                  334-341.

 

          11     NAVIA, Alan Rodrigo; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electrical and Physical Characterization of

                  Electroless Nickel Films on Polysilicon Gate Electrodes. In: 17TH SYMPOSIUM ON

                  MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2002, Porto Alegre. Microelectronics Technology

                  and Devices. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2002. v. PV-08, p.

                  318-327.

 

          12     SANTOS, Regis E; DOI, Ioshiaki; DINIZ, José Alexandre; SWART, Jacobus W; SANTOS FILHO,

                  Sebastiao Gomes dos. Formation and Characterization of the Ni(Pt)Si and NiSi for MOS Devices

                  Applications. In: 17TH SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2002,

                  Porto Alegre. Microelectronics Technology and Devices. Pennington, New Jersey, USA: The

                  Electrochemical Society, Inc., 2002. v. PV-08, p. 109-116.

 

          13     REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; LAGANÁ, Armando Antonio Maria; DOI,

                  Ioshiaki; SWART, Jacobus W. Formation of Nickel Monosilicide onto (100) Silicon Wafer Surfaces. In:

                  17TH SYMPOSIUM ON MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2002, Porto Alegre.

                  Microelectronics Technology and Devices. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society,

                  Inc., 2002. v. PV-08, p. 101-108.

 

          14     ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Polarization-Difference Imaging

                  Technique for Material Characterization:Algorithm and some applications. In: 17TH SYMPOSIUM ON

                  MICROELECTRONICS TECHNOLOGY AND DEVICES, 2002, Porto Alegre. Microelectronics Technology

                  and Devices. Pennington, New Jersey, USA: The Electrochemical Society, Inc., 2002. v. PV-08, p.

                  285-292.

 

          15     TOQUETTI, Leandro Zeidan; NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A

                  practical procedureto match the measured capacitance of low and high frequency in order to obtain the

                  energy distribution of the interface states density. In: XVI INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2001, Brasília. Proceedings of the XVI International

                  Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 2001.

                  v. 1, p. 219-221.

 

          16     REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Characterization of Ni/TiSi2 contacts

                  fabricated onto N+P junctions. In: XVI INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND

                  PACKAGING, 2001, Brasília. Proceedings of the XVI International Conference on Microelectronics and

                  Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 2001. v. 1, p. 112-117.

 

          17     HASAN, Nasser M; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SCHWARZACHER, Walther. Evolution of

                  Roughness in Electroless Copper Films. In: XVI INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2001, Brasília. Proceedings of the XVI International

                  Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 2001.

                  v. 1, p. 204-207.

          18     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influence of the oxynitridation

                  parameters on the refractive index and on the thickness uniformity of MOS gate Dielectrics grown by RTN.

                  In: ALTERNATIVES TO SIO2 AS GATE DIELECTRICS FOR FUTURE SI-BASED MICROELECTRONICS,

                  2001, Porto Alegre. 2001 MRS workshop Series - Alternatives to SiO2 as Gate Dielectrics for Future

                  Si-Based Microelectronics. USA: Materials Research Society, 2001. v. 1, p. 25-29.

 

          19     ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Simulations of an interference

                  birefringent thin-film filter used as narrow-band polarizer. In: XVI INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2001, Brasília. Proceedings of the XVI International

                  Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 2001.

                  v. 1, p. 146-150.

 

          20     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A New Experimental Procedure to

                  Obtain the Refractive Index of MOS Gate Oxynitrides Grown by RTP in N2O Atmosphere. In: XV

                  INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2000, Manaus.

                  Proceedings of the XV International Conference on Microelectronics and Packaging. Manaus:

                  Universidade da Amazônia - Imprensa Universitária, 2000. v. 1, p. 292-297.

 

          21     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Analysis of the Surface

                  Roughness and Surface Particle Concentration Using a New Technique: Integrated Angle Resolved

                  LASER Scattering (IARLS). In: XV INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND

                  PACKAGING, 2000, Manaus. Proceedings of the XV International Conference on Microelectronics and

                  Packaging. Manaus: Universidade do Amazonas - Imprensa Universitária, 2000. v. 1, p. 256-261.

 

          22     NAVIA, Alan Rodrigo; SONNENBERG, Victor; MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO,

                  Sebastiao Gomes dos; MARTINIO, João Antonio. Electrical Characterization of Thin Nickel Films Obtained

                  from Electroless Plating onto Aluminum Gate of MOS Capacitores. In: XV INTERNATIONAL

                  CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2000, Manaus. Proceedings of the XV

                  International Conference on Microelectronics and Packaging. Manaus: Universidade da Amazônia -

                  Imprensa Universitária, 2000. v. 1, p. 286-291.

 

          23     ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electrical Simulations of

                  Gate-Controlled Diodes in Order to Show their Feasibility as Luminous Radiation Sensors. In: XV

                  INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2000, Manaus.

                  Proceedings of the XV International Conference on Microelectronics and Packaging. Manaus:

                  Universidade do Amazonas - Imprensa Universitária, 2000. v. 1, p. 147-152.

 

          24     MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Morphological

                  Characterization of Electroless Nickel Films onto Aluminum Surfaces. In: XV INTERNATIONAL

                  CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 2000, Manaus. Proceedings of the XV

                  International Conference on Microelectronics and Packaging. Manaus: Universidade da Amazônia -

                  Imprensa Universiária, 2000. v. 1, p. 245-249.

 

          25     NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Partial Dielectric Breakdown in MOS

                  Gate Oxide Grown by RTO. In: XV INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND

                  PACKAGING, 2000, Manaus. Proceedings of the XV International Conference on Microelectronics and

                  Packaging. Manaus: Universidade do Amazonas - Imprensa Universitária, 2000. v. 1, p. 298-302.

 

          26     HASAN, Nasser M; MARQUES, Angelo E B; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Copper Electroless

                  Plating onto Palladium-Activated Silicon Surfaces. In: XIV INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 1999, Campinas. Proceedings of the XIV International

                  Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 1999.

                  v. 1, p. 280-282.

 

          27     HASAN, N.m.; MARQUES, A.e.b.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electroless Plating Of

                  Palladium Onto Silicon Wafer Surfaces. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS

                  AND PACKAGING - ICMP99, 1999, Campinas. Proceedings of the International Conference on

                  Microelectronics and Packaging - ICMP99. Campinas, SP: 1999. p. 121-127.

          28     MARQUES, Angelo E B; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASAN, Nasser M. Ni Electroless

                  Plating onto Pd-activated Si Surfaces. In: XIV INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 1999, Campinas. Proceedings of the XIV International

                  Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de Microeletrônica, 1999.

                  v. 1, p. 277-279.

 

          29     NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A new technique to obtain the MOS

                  gate oxide thickness and electric breakdown field distributions from Follower-Nordheim tunneling current.

                  In: XIII INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 1998, Curitiba.

                  Proceedings of the XIII International Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo, SP:

                  Sociedade Brasileira de Microeletrônica - SBMicro, 1998. v. 1, p. 475-477.

 

          30     SOUZA, Silvana G de; HASAN, N.m.; LAGANÁ, A.a. M.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Effect

                  Of The Rapid Thermal Annealing Parameters On The Mechanical Stress And On The Morphology Of

                  Titanium Silicide Films Formed Onto Silicon Wafer Surfaces. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON

                  MICROELECTRONICS AND PACKAGING - ICMP98, 1998, Curitiba. Proceedings of the  International

                  Conference on Microelectronics and Packaging - ICMP98. Curitiba, Paraná: 1998. v. 1, p. 202-210.

 

          31     MUNFORD, M.l.; D'AJELLO, P.c.t.; PASA, A.a.; SCHWAZACHER, W.; SANTOS FILHO, Sebastiao

                  Gomes dos. Electrodeposition Of Cobalt Thin Films On Silicon. In: 13O. CONGRESSO DE ENGENHARIA

                  E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 1998, Paraná. Anais  do 13o. Congresso de Engenharia e Ciência dos

                  Materiais. Curitiba, Paraná: 1998. v. 1, p. 1801-1809.

 

          32     HASAN, N.m.; LAGANÁ, A.a. M.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influence Of The Titanium

                  Deposition Procedures (Evaporation Or Sputtering) On The Morphology Of Titanium Silicides Films

                  Formed Onto Si(1000. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND

                  PACKAGING - ICMP98, 1998, Curitiba. Proceedings os the International Conference on Microelectronics

                  and Packaging - ICMP98. Curitiba, Paraná: 1998. v. 1, p. 495-499.

 

          33     HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Mechanical stress and

                  morphology of copper thin films deposited by electroless plating onto Si (100). In: XIII INTERNATIONAL

                  CONFERENCE ON MICROELECTRONICS AND PACKAGING, 1998, Curitiba. Proceedings of the XIII

                  International Conference on Microelectronics and Packaging. São Paulo: Sociedade Brasileira de

                  Microeletrônica, 1998. v. 1, p. 478-480.

 

          34     LOPES, M.c.v.; GEJUIBA, N.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Estudo da

                  Quantificação da Rugosidade da Interface Si-Sio2. In: XII CONFERENCE OF THE BRAZILIAN

                  MICROELECTRONICS SOCIETY, 1997, Caxambu. ESTUDO DA QUANFIFICAÇÃO DA RUGOSIDADE

                  DA INTERFACE SI-SIO2. CAXAMBU, MG - BRASIL: 1997. v. CDROM.

 

          35     HASHIMOTO, A.i.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Estudo Experimental da Tensão Mecânica

                  Em Filmes Finos de Cobre Obtidos Por Evaporação Ou Deposição Eletroquímica Espontânea. In: XII

                  CONFERENCE OF THE BRAZILIAN MICROELECTRONICS SOCIETY, 1997, Caxambu. Anais do XII

                  CONFERENCE OF THE BRAZILIAN MICROELECTRONICS SOCIETY. Caxambu, BRAZIL: 1997. v.

                  CDROM, p. A37.

 

          36     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Metal And Sulfate Contamination Mechanisms

                  On Silicon Wafer Surfaces During Hf-Last Cleanings. In: XII CONFERENCE OF THE BRAZILIAN

                  MICROELECTRONICS SOCIETY, 1997, Caxambu. Anais do XII CONFERENCE OF THE BRAZILIAN

                  MICROELECTRONICS SOCIETY. CAXAMBU, MG - BRASIL: 1997. v. CDROM.

 

          37     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. A Electroless Mechanism Of Cu Plating Onto

                  Si During Hf-Last Cleanings. In: XI CONFERENCE OF THE BRAZILIAN MICROELECTRONICS

                  SOCIETY, Proceedings of the XI CONFERENCE OF THE BRAZILIAN MICROELECTRONICS SOCIETY.

                  ÁGUAS DE LINDÓIA, SP - BRASIL: 1996. v. 1, p. 320-330.

 

          38     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M. The Electroless-plating mechanism of

                  copper onto silicon surfaces in diluted hydrofluoric solutions. In: INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NEW

                  DIRECTIONS IN ELECTROANALYTICAL CHEMISTRY, 1996, Los Angeles. Proceedings of the

                  International Symposium on New Directions in Electroanalytical Chemistry. Los Angeles: Electrochemical

                  Society, 1996. v. 1, p. 234-247.

 

          39     LOPES, M.c.v.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. The Influence Of Si/Sio2

                  Interface Roughness On Electronic Roughness. In: X CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNCA, 1995, Canela. Anais do X CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNCA. CANELA, RS - BRASIL: 1995. v. 1, p. 349-360.

 

          40     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. The Plating Mechanisms Of Copper Onto

                  Silicon Surfaces In Diluted Hydrofluoric Solutions. In: X CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNICA, Anais do X CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNICA. CANELA, RS - BRASIL: 1995. v. 1, p. 587-596.

 

          41     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. The Deposition And Removal Of Surface

                  Contaminants From Silicon Wafers By Means Of A Diluted Hf Dip Followed Or Not By An Isopropyl

                  Alcohol Boil. In: IX CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1994, Rio de

                  Janeiro. Anais do IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. Rio de Janeiro, Brasil: 1994.

                  v. 1, p. 137-147.

 

          42     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m.; LOPES, M.v.c.; BARANAUSKAS, V. The

                  Effect Of The Temperature Cooling Rate On The Si/Sio2 Interface Roughness After Rapid Thermal

                  Oxidation. In: IX CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1994, Rio de

                  Janeiro. Anais do  IX Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. Rio de Janeiro, Brasil: 1994.

                  v. 1, p. 428-436.

 

          43     LEITE, N.g.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Um Processo de Limpeza Para

                  Lâminas de Silício. In: XI CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS,

                  1994, Águas de São Pedro. Anais do XI Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais.

                  Águas de São Pedro, São Paulo: 1994. v. 1, p. 125-129.

 

          44     RAMOS, A C S; SWART, Jacobus W; TATSCH, Peter J; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos;

                  RIBEIRO, E; PRINCE, F C. Design and Characterization of an RIE equipment and its application in

                  tungsten etching. In: VIII CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1993,

                  Campinas. Anais do VIII Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. Campinas, SP: 1993. v. 1,

                  p. 19.13-19.19.

 

          45     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SOUZA FILHO, Nosé Cândido de; HASENACK, Claus M.

                  Measurement of silicon surface asperities using elastic HeNe lightscattering technique. In: VIII

                  CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1993, Campinas. Anais do VIII

                  Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. Campinas: Cartgraf Editora Ltda, 1993. v. 1, p.

                  20.19-20.24.

 

          46     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Measurement of silicon

                  surface asperities using the elastic HeNe lightscattering technique. In: VIII CONGRESSO DA SOCIEDADE

                  BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1993, Campinas. Anais do VIII Congresso da Sociedade

                  Brasileira de Microeletrônica. Campinas, SP: 1993. v. 1, p. 20.19-20.24.

 

          47     YAMAMOTO, R K; LOPES, Manoel C V; AKAMINE, Carlos T; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos;

                  HASENACK, Claus M. Silicon Surface Roughening induced by CBrF3 plasma during the reactive ion

                  etching. In: X CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA E CIÊNCIA DOS MATERIAIS, 1993, Águas

                  de Lindóia. Anais do X Congresso Brasileiro de Engenharia e Ciência dos Materiais. 1993. v. 1, p.

                  125-131.

 

          48     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M; MERTENS, Paul W. The cleaning of

                  silicon wafers with hot isopropyl alcohol and distilled water as final steps. In: VIII CONGRESSO DA

                  SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1993, Campinas. Anais do VIII Congresso da

                  Sociedade Brasileira de Microeletrônica. São Bernardo do Campo - SP: Gráfica e Editora FCA, 1993. v. 1,

                  p. 20.7-20.12.

 

          49     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M. Construção e caracterização inicial de um

                  medidor de rugosidade química de superfícies de silício empregando espalhamento de luz. In: VII

                  CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1992, São Paulo. Anais do VII

                  Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. São Bernado do Campo, SP: Gráfica e Editora

                  FCA, 1992. v. 1, p. 583-593.

 

          50     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M. Obtenção de camadas ultra-finas de

                  óxido de silício por oxidação térmica rápida. In: VII CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNICA, 1992, São Paulo. anais do VII Congresso da Sociedade Brasileira de

                  Microeletrônica. São Bernardo do Campo: Gráfica e Editora FCA, 1992. v. 1, p. 195-204.

 

          51     RIBEIRO, Fernando S; GRIMONI, José Aquiles B; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A disciplina

                  Materiais Elétricos e Processos na Formação do Engenheiro de Eletricidade na Escola Politécnica da

                  Universidade de São Paulo. In: SEMINÁRIO DE ENSINO DE METALURGIA E MATERIAIS, 1991, São

                  Paulo. Anais do Seminário de Ensino de Metalurgia e Materiais. São Paulo: ABM - Associação Brasileira

                  de Metalurgia, 1991. v. 1, p. 25-31.

 

          52     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Modeling of interconnection lines for

                  simulation of VLSI circuits. In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON COMPUTER DESIGN, 1991,

                  Massachusetts. Proceedings of the IEEE International Conference on Computer Design. Massachusetts:

                  IEEE, 1991. v. 1, p. 92-102.

 

          53     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Use of the charge pumping technique for

                  the evaluation of MOSFET degradation due to stress in silicide/polysilicon double layer. In: FIFTH

                  CONGRESS OF MICROELETRONIC BRAZILIAN SOCIETY, 1990, Campinas. Proceedings of the Fifth

                  Congress of Microelectronic Brazilian Society. São Paulo, SP: Sociedade Brasileira de Microeletrôncia,

                  1990. v. 1, p. 368-374.

 

          54     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. An Experimental Measurement Technique

                  of Interconnection RC Delay for Integrated Circuits. In: IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE OF

                  MICROELECTRONIC TEST STRUCTURES, 1989, Edinburgh. Proceedings of the IEEE International

                  Conference of Microelectronic Test Structures. Edinburgh, Scotland: IEEE, 1989. v. 1, p. 233-243.

 

          55     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Aplicação de filmes de siliceto de titânio na

                  fabricação de transistores nMOS. In: III CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNICA, 1988, São Paulo. Anais do III Congresso da Sociedade Brasileira de

                  Microeletrônica. Campinas: Cartgraf - editora limitada, 1988. v. 1, p. 31-41.

 

          56     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Medida do Atraso RC em Linhas de

                  Interconexão. In: III CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRÔNICA, 1988, São

                  Paulo. Anais do III Congresso da Sociedade Brasileira de Microeletrônica. São Paulo, SP: Sociedade

                  Brasileira de Microeletrônica, 1988. v. 1, p. 260-266.

 

          57     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Escoamento de filmes de PSG por

                  processamento térmico rápido. In: II CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROELETRÔNICA, 1987, Sào Paulo. Anais do II Congresso da Sociedade Brasileira de

                  Microeletrônica. Campinas: Cartgraf - editora limitada, 1987. v. 1, p. 424-430.

 

          58     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Estudo Experimental da Densificacao e do

                  Escoamento de Camadas de Psg Utilizando Processamento Termico Rapido. In: I CONGRESSO DA

                  SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRONICA, 1986, Campinas. Anais do I CONGRESSO DA

                  SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRONICA. CAMPINAS, SP, BRASIL: 1986. p. 492-502.

          59     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Modelamento de Interconexoes Resistivas.

                  In: I CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRONICA, 1986, Campinas. Anais do I

                  CONGRESSO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE MICROELETRONICA. CAMPINAS, SP, BRASIL: 1986.

                  v. 1, p. 187-197.

 

          60     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; WALDMAN, B. Interpretacao Rapida do Transitorio C-T do

                  Capacitor Mos. In: V SIMPOSIO BRASILEIRO DE MICROELETRONICA, 1985, São Paulo. Anais do V

                  SIMPOSIO BRASILEIRO DE MICROELETRONICA. SAO PAULO, SP, BRASIL: 1985. v. 1, p. 79-89.

 

          61     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARTINO, João Antonio; WALDMAN, Bernard. Influencia da

                  Resistencia Serie Na Curva Caracteristica Capacitancia- Tensao de Capacitores Mos. In: IV SIMPOSIO

                  BRASILEIRO DE MICROELETRONICA, São Paulo. Anais do IV SIMPOSIO BRASILEIRO DE

                  MICROELETRONICA. SAO PAULO, SP, BRASIL: 1984. v. 1, p. 105-111.

 

          62     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARTINO, João Antonio; WALDMAN, Bernard. Determinacao da

                  Capacitancia de Alta Frequencia de Um Capacitor Mos. In: III SIMPOSIO BRASILEIRO DE

                  MICROELETRONICA, 1983, São Paulo. Anais do III SIMPOSIO BRASILEIRO DE MICROELETRONICA.

                  SAO PAULO, SP, BRASIL: 1983. v. 1, p. 589-599.

 

          63     MARTINO, João Antonio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Otimizacao dos Parametros Eletricos e

                  Geometricos de Dispositivos Nmoscom Carga Em Deplecao. In: III SIMPOSIO BRASILEIRO DE

                  MICROELETRONICA, 1983, São Paulo. Anais do III SIMPOSIO BRASILEIRO DE MICROELETRONICA.

                  SAO PAULO, SP, BRASIL: 1983. v. 1, p. 491-501.

 

                  8.1.2 Trabalhos resumidos em eventos

 

          1       SANTOS, Regis Eugenio dos; DOI, Ioshiaki; SWART, Jacobus W; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes

                  dos. Investigation of Ni Silicides Formation on (100) Si by X-ray Diffraction (XRD). In: XXIV CBRAVIC,

                  2003, Bauru. Anais do XXIV CBrAVIC. São Paulo: Sociedade Brasileira de Vácuo, 2003. v. 1, p. 119-119.

 

          2       SANTOS, Regis Eugenio dos; DOI, Ioshiaki; DINIZ, José Alexandre; SWART, Jacobus W; SANTOS

                  FILHO, Sebastiao Gomes dos. Microstructure Characterization of Agglomerations Formed on Ni and Ni(Pt)

                  Silicide Thin Films with SEM/EDS. In: ICMAT 2003 - INTERNATIONAL CONFERENCE ON MATERIALS

                  FOR ADVANCED TECHNOLOGIES, 2003, Singapura. Proceedings of the ICMAT 2003 - International

                  Conference on Materials for Advanced Technologies. Singapura: ICMAT2003, 2003. v. 147, p. 539-540.

 

          3       NAVIA, Alan Rodrigo; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Characterization of Electroless Nickel

                  Films Plated on Polysilicon Gate Electrodes. In: XXIII CONGRESSO DE APLICAÇÕES DE VÁCUO NA

                  INDÚSTRIA E NA CIÊNCIA, 2002, Florianópolis. Anais do XXIII Congresso de Aplicações de Vácuo na

                  Indústria e na Ciência. Florianópolis: Universidade Federal de Santa Catarina, 2002. v. 1, p. 67.

 

          4       TOQUETTI, Leandro Zeidan; NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos.

                  Influence of the cleaning procedure on the surface roughness of silicon wafers. In: 201ST MEETING OF

                  THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 2002, Philadelphia. Proceedings of the 201st Meeting of the

                  Electrochemical Society. Pennington, USA: Electrochemical Society, 2002. v. 1, p. 31.

 

          5       HASAN, Nasser Mahmoud; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MALLETT, J M; SCHWARZACHER,

                  Walther. Kinetic Roughening of Electroless Cu Films. In: ANNUAL APS MARCH MEETING 2002, 2002,

                  Indianapolis. Annual APS March Meeting 2002. USA: APS, 2002.

 

          6       NOGUEIRA, Willian Aurélio; TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. The

                  effect of HNO3/HF-last cleanings on the MOS gate oxide integrity. In: 201ST MEETING OF THE

                  ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 2002, Philadelphia. Proceedings of the 201st Meeting of the

                  Electrochemical Society. Pennington, USA: Electrochemical Society, 2002. v. 1, p. 14.

 

          7       HASAN, Nasser Mahmoud; MALLETT, Jonathan; SCHWARZACHER, Walther; SANTOS FILHO,

                  Sebastiao Gomes dos. Dynamic Scaling in Electroless Cu Deposition. In: THE 200TH MEETING OF THE

                  ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 2001, San Francisco. Meeting Abstracs - 2001 Joint International

                  Meeting. Pennington: Electrochemical Society, 2001. v. 2001-2, p. 704-704.

          8       NAVIA, Alan R; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electrical Characterization of Electroless Nickel

                  Films onto MOS Gates. In: XXII CONGRESSO BRASILEIRO DE APLICAÇÕES DE VÁCUO NA

                  INDÚSTRIA E NA CIÊNCIA (CBRAVIC), 2001, Guaratinguetá. XXII Congresso Brasileiro de Aplicações de

                  Vácuo na Indústria e na Ciência (CBRAVIC). Campinas: Sociedade Brasileira de Vácuo, 2001. v. 1, p.

                  139-139.

 

          9       NAVIA, Alan Rodrigo; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electrical Characterization of MOS

                  capacitors with gate of nickel/aluminum. In: IV WORKSHOP DO SIBRATI (SISTEMA BRASILEIRO DE

                  TECNOLOGIA DE INFORMAÇÃO), 2001, São Paulo. Extended Abstracts of the IV Workshop do

                  SIBRATI. São Paulo: LSI/USP, 2001. v. 1.

 

          10     REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Electroless Plating of Nickel onto

                  C54-TiSi2 as Diffusion Barrier. In: XXII CONGRESSO BRASILEIRO DE APLICAÇÕES DE VÁCUO NA

                  INDÚSTRIA E NA CIÊNCIA, 2001, Guaratinguetá. Anais da XXII CBRAVIC. Campinas, SP: Sociedade

                  Brasileira de Vácuo, 2001. v. 1, p. 134-134.

 

          11     REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Fabrication of n+p diodes with contacts

                  Al/Ni/TiSi2. In: IV WORKSHOP DO SIBRATI, 2001, São Paulo. Proceedings of the IV Workshop do

                  SIBRATI. São Paulo: LSI/EPUSP, 2001. v. 1.

 

          12     HASAN, Nasser Mahmoud; MALLETT, J M; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SCHWARZACHER,

                  Walther. First Observation of Anomalous Scaling in Electrodeposited Films. In: AVS 48TH

                  INTERNATIONAL SYMPOSIUM, 2001, San Francisco. AVS 48th International Symposium. USA: AVS,

                  2001.

 

          13     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influence of the oxynitridation

                  parameters on the refractive index and on the thickness uniformity of MOS gate dielectrics grown by RTN.

                  In: INTERNATIONAL WORKSHOP ON DEVICE TECHNOLOGY: ALTERNATIVES TO SIO2 AS GATE

                  DIELECTRIC FOR FUTURE SI-BASED MICROELECTRONICS, 2001, Porto Alegre. Materials Research

                  Society - Workshop Series - Book of Abstracts. Materials Research Society - Workshop Series, 2001. v. 1,

                  p. 51-51.

 

          14     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influence of the silicon thermal

                  nitridation in the uniformity of gate dielectric thickness grown by RTP. In: IV WORKSHOP DO SIBRATI,

                  2001, São Paulo. Proceedings of the IV Workshop do SIBRATI. São Paulo: LSI/EPUSP, 2001. v. 1.

 

          15     HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Morphological study of cobalt

                  thin films deposited by electroless onto Si (100) activated by palladium. In: IV WORKSHOP DO SIBRATI,

                  2001, São Paulo. Proceedings of the IV Workshop do SIBRATI. São Paulo: LSI/EPUSP, 2001. v. 1.

 

          16     MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; NAVIA, Alan Rodrigo; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos;

                  SONNENBERG, Victor; MARTINO, João Antonio. Physical and Electrical Characterization of Electroless Ni

                  films depositec onto Al gate of MOS capacitors. In: THIRD BRAZILIAN-GERMAN WORKSHOP ON

                  APPLIED SURFACE SCIENCE, 2001, Florianópolis. Proceedings of the Third Brazilian-German Workshop

                  on Applied Surface Science. Florianópolis: UFSC, 2001. v. 1.

 

          17     NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. The influence of NH4OH and HNO3

                  concentrations on the micro-roughness of silicon wafer surfaces. In: IV WORKSHOP OF SIBRATI

                  (ACRONYM IN PORTUGUESE FOR BRAZILIAN SYSTEM), 2001, São Paulo. Proceedings of the IV

                  Workshop of SIBRATI. São Paulo: LSI/EPUSP, 2001. v. 1.

 

          18     NAVIA, Alan Rodrigo; SONNENBERG, Victor; MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO,

                  Sebastiao Gomes dos; MARTINO, João Antonio. Caracterização elétrica de filmes finos de níquel obtidos

                  por deposição química espontânea sobre alumínio através de capacitores MOS. In: 2O. SIMPÓSIO DE

                  INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA, 2000, São Paulo. Anais do 2o. Simpósio de Iniciação

                  Científica e Tecnológica. 2000. v. 1, p. BT/09.

 

          19     NAVIA, Alan Rodrigo; SONNENBERG, Victor; MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO,

                  Sebastiao Gomes dos; MARTINO, João Antonio. Caracterização elétrica de filmes finos de níquel obtidos

                  por deposição química espontânea sobre alumínio através de capacitores MOS. In: 8O. SIMPÓSIO

                  INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA UNIVERSIDADE DE SÃO PAULO - CICTE, 2000, São

                  Carlos. Anais do 8o. Simpósio Internacional de Iniciação Científica da Universidade de São Paulo - CICTE.

                  2000. v. 1.

 

          20     FONTES, Marcelo B A; MARQUES, Angelo E B; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Development of

                  a Highly Sensitive Chemical Microsensor. In: SECOND IBEROAMERICAN CONFERENCE ON SENSORS

                  (IBERSENSORS 2000), 2000, Argentina. Proceendings of the Second IberoAmerican Conference on

                  Sensors (Ibersensors 2000). 2000. v. 1, p. 68-69.

 

          21     HASAN, Nasser Mahmoud; MARQUES, Ângelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes

                  dos. Electroless copper deposition onto Ni/ Si(100). In: III LSI WORKSHOP ON MICROELECTRONICS

                  AND MICROSYSTEMS, 2000, São Paulo. Proceedings of the III LSI Workshop on Microelectronics and

                  Microsystems. São Paulo: LSI/EPUSP, 2000. v. 1.

 

          22     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Rapid thermal growth of silicon-oxide glasses onto silicon wafer

                  surface. In: III LSI WORKSHOP ON MICROELECTRONICS AND MICROSYSTEMS, 2000, São Paulo.

                  Proceedings of the III LSI Workshop on Microelectronics and Microsystems. São Paulo: LSI/EPUSP, 2000.

                  v. 1.

 

          23     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Silicon oxynitrides grown by RTP to

                  be used as gate dielectrics in MOS devices. In: III LSI WORKSHOP ON MICROELECTRONICS AND

                  MICROSYSTEMS, 2000, São Paulo. Proceedings of the III LSI Workshop on Microelectronics and

                  Microsystems. São Paulo: LSI/EPUSP, 2000. v. 1.

 

          24     TOLEZANI, K W; DEUS, Roseli L de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Hipermídia aplicada ao

                  ensino de Eletrônica - Sítio aprenda Eletrônica. In: 7O. SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP,

                  1999, São Paulo. Anais do 7o. Simpósio de Iniciação Científica da USP. São Paulo: USP, 1999. v. 1.

 

          25     NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A New Technique to obtain the MOS

                  Gate Oxide Thickness and electric breakdown field distributions from Fowler-Nordheim Tunneling Current.

                  In: DMI WORKSHOP '98, 1998, São Paulo. Proceedings of the DMI Workshop '98. São Paulo:

                  LSI/EPUSP, 1998. v. 1.

 

          26     HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Experimental Study on the

                  Mechanical Stress and on the Morphology of Copper Thin Films Deposited by Electroless Plating onto Si

                  (100). In: DMI WORKSHOP '98, 1998, São Paulo. Proceedings of the DMI Workshop '98. São Paulo:

                  LSI/EPUSP, 1998.

 

          27     ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Fabrication and Characterization of

                  Gate-Controlled Diodes. In: DMI WORKSHOP '98, 1998, São Paulo. Proceedings of the DMI Workshop

                  '98. São Paulo: LSI/EPUSP, 1998. v. 1.

 

          28     HASAN, Nasser Mahmoud; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influence of the Transient

                  Temperature Profiles and of the Titanium Deposition Procedures (Evaporation or Sputtering) on the

                  Morphology of Titanium Silicide Films Formed onto Si (100). In: DMI WORKSHOP '98, 1998, São Paulo.

                  Proceedings of the DMI Workshop '98. São Paulo: LSI/EPUSP, 1998. v. 1.

 

          29     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Analysis Of Silicon Surface

                  Micro-Irregularities By Laser Light Scattering. In: XII CONFERENCE OF THE BRAZILIAN

                  MICROELECTRONICS SOCIETY, 1997, Caxambu. ANALYSIS OF SILICON SURFACE

                  MICRO-IRREGULARITIES BY LASER LIGHT SCATTERING. CAXAMBU, MG - BRASIL: 1997. v.

                  CDROM.

 

          30     SELIGMAN, Luiza; MARTINS, Luís F O; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; D'AJELLO, Paulo Cezar;

                  HASENACK, Claus M; PASA, André A. Dissolução Eletroquímica na Superfície de Si tipo N influenciada

                  pela presença de Cu. In: XX ENCONTRO NACIONAL DE FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA, 1997,

                  Caxambu. Anais do XX Encontro Nacional de Física da Matéria Condensada. São Paulo: Sociedade

                  Brasileira de Física, 1997. v. 1.

 

          31     MARTINS, Luís F O; SELIGMAN, Luiza; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; D'AJELLO, Paulo C T;

                  HASENACK, Claus M; PASA, André A. Eletrodeposição de Cu sobre Si monocristalino. In: XVII

                  CONGRESSO BRASILEIRO DE APLICAÇÕES DE VÁCUO NA INDÚSTRIA E NA CIÊNCIA, 1997,

                  Xérem. Anais do XVII Congresso Brasileiro de Aplicações de Vácuo na Indústria e na Ciência. Campinas:

                  Sociedade Brasileira de Vácuo, 1997. v. 1.

 

          32     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M. A Mechanism for electroless Cu plating

                  onto Si. In: CONFERENCE OF THE MATERIALS RESEARCH SOCIETY, 1996, Strasbourg. Proceedings

                  of the Conference of the Materials Research Society. USA: MRS, 1996. v. 1, p. J-4.

 

          33     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; PIRES, Marcelo O. Construção de termopares sobre lâminas de

                  silício para calibração de Fornos RTP. In: XV CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E

                  TECNOLÓGICA (CICTE), 1996, São Carlos. Anais do XV Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica

                  (CICTE). São Carlos: USP, 1996. v. EL, p. 3144.

 

          34     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARTINS, Luís F O; D'AJELLO, Paulo C T; PASA, André A;

                  HASENACK, Claus M. Electroless and Electro-plating of Cu onto Si. In: CONFERENCE OF THE

                  MATERIALS RESEARCH SOCIETY - SPRING MEETING, 1996, Strasbourg. Proceedings of the

                  Conference of the Materials Research Society. USA: MRS, 1996. v. 1, p. J-3.

 

          35     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Influence

                  Of Different Rapid Themal Oxidation Recipes On The Rms Roughness Of The Si-Sio2 Interface. In: XI

                  CONFERENCE OF THE BRAZILIAN MICROELECTRONICS SOCIETY, 1996, Águas de Lindóia.

                  INFLUENCE OF DIFFERENT RAPID THERMAL OXIDATION RECIPES ON THE RMS ROUGHNESS OF

                  THE SI-SIO2 INTERFACE. ÁGUAS DE LINDÓIA, SP - BRASIL: 1996. v. 1, p. 735-737.

 

          36     ARAES, L G; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Simulação Numérica dos perfis de temperatura em

                  fornos RTP. In: XV CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA EM ENGENHARIA

                  (CICTE), 1996, São Carlos. Anais do XV Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia

                  (CICTE). ão Carlos: USP, 1996. v. EL, p. 3145.

 

          37     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. The Electroless-Plating Mechanism Of Copper

                  Onto Silicon Surfaces In Diluted Hydrofluoric Solutions. In: 189TH MEETING OF THE

                  ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 1996, Los Angeles. Proceedings of the 189TH MEETING OF THE

                  ELECTROCHEMICAL SOCIETY. LOS ANGELES, USA: 1996. v. 1, p. 1033-1034.

 

          38     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Um Mecanismo Para Deposição

                  Eletroquímica de Cu Sobre Si. In: XIX ENCONTRO NACIONAL DE FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA,

                  1996, Águas de Lindóia. Anais do XIX ENCONTRO NACIONAL DE FÍSICA DA MATÉRIA CONDENSADA

                  ÁGUAS DE LINDÓIA: 1996. v. 1, p. P263.

 

          39     ARAÚJO, Hugo P de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Um processo simples para construção de

                  células solares de silício. In: XV CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA EM

                  ENGENHARIA, 1996, São Carlos. Anais do XV Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em

                  Engenharia. São Carlos: USP, 1996. v. EL, p. 3143.

 

          40     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. Análise da

                  Rugosidade Superficial Por Espalhamento de Luz Laser de Lâminas de Silício Após Diferentes Processos

                  de Oxidaçào Térmica. In: XIV CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA EM

                  ENGENHARIA, 1995, São Carlos. Anais do XIV CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E

                  TECNOLÓGICA EM ENGENHARIA. SÃO CARLOS, SP - BRASIL: 1995. v. 1, p. 1005-1005.

 

          41     LOPES, M.c.v.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m.; BARANAUSKAS, V. Si/Sio2

                  Electronic Roughness: A Consequence Of Si/Sio2 Interface Roughness. In: 1ST BRAZILINA/GERMAN

                  WORKSHOP ON APPLIED SURFACE SCIENCE, 1995, Mangaratiba. Proceedings of the 1ST

                  BRAZILINA/GERMAN WORKSHOP ON APPLIED SURFACE SCIENCE. MANGARATIBA, RJ - BRASIL:

                  1995. p. 25-25.

 

          42     SOUZA FILHO, José Cândido de; ARAES, Fábio G; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos;

                  HASENACK, Claus M. Caracterização da rugosidade superficial de lâminas de silício por espalhamento de

                  luz. In: II SIMPÓSIO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA USP/CNPQ, 1994, São Paulo. Anais do II Simpósio de

                  Iniciação Científica USP/CNPq. São Paulo: USP, 1994. v. 1.

 

          43     LEITE, Nery G; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, Claus M; ZUFFO, João Antonio.

                  Utilização de SEM no estudo da interdifusão Si/Al. In: XIV COLÓQUIO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE

                  MICROSCOPIA ELETRÔNICA, 1993, Caxambu. Anais do XIV Colóquio da Sociedade Brasileira de

                  Microscopia Eletrônica. SBME, 1993. v. 1.

 

          44     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Rapid Thermal Flow of PSG Films in

                  Vacuum using a Graphite Heater. In: 173TH MEETING OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, 1987,

                  Hawaii. Proceedings of the 173th Meeting of the Electrochemical Society. USA: Electrochemical Society,

                  1987. v. RNP, p. 1864.

 

          45     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; WALDMAN, Bernard. Características C X V de Capacitores

                  MOS. In: III CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA EM ENGENHARIA, 1984, São

                  Carlos. Anais do III Congresso de Iniciação Científica e Tecnológica em Engenharia (CICTE). São Carlos:

                  USP, 1984. v. EL, p. 17.1.

 

                  8.1.3 Artigos completos publicados em periódicos

 

          1       CARVALHO, A T; SILVA, M L P da; NASCIMENTO FILHO, A P; JESUS, D P; SANTOS FILHO, Sebastiao

                  Gomes dos. Improvement on organic compound adsorption and/or detection by using metallic thin films

                  deposited onto highly rough silicon substrates. Sensors And Actuators B-Chemical, inpress-

                  www.sciencedirect.com, p. 1-7, 2005.

 

          2       HASAN, Nasser Mahmoud; MALLET, J J; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; PASA, André Avelino;

                  SCHWARZACHER, Walther. Dynamic scaling of the surface roughness of Cu deposited using chemical

                  bath. Physical Review B - Condensed Matter And Materials Physics, USA, v. 67, n. 008, p. 14011-14014,

                  2003.

 

          3       NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Influência das limpezas químicas

                  úmidas H2O/H2O2/NH4OH e H2O/HF/HNO3 na micro-rugosidade de lâminas de silício. Revista Brasileira

                  de Aplicações de Vácuo, São Paulo, v. 22, n. 4, p. 53-58, 2002.

 

          4       OLIVEIRA, Ivo C; MASSI, Marcos; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; OTTANI, C; MACIEL, Homero

                  S; MANSANO, Ronaldo D. Dielectric Characteristics of AlN films Grown by d.c.-magnetron sputtering

                  discharge. Diamond and Related Materials, Elsevier - Holanda, v. 10, p. 1317-1321, 2001.

 

          5       MARQUES, Angelo E B; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; NAVIA, Alan R; SONNENBERG, Victor;

                  MARTINO, João Antonio. Physical and Electrical Characterization of Thin Nickel Films Obtained from

                  Electroless Plating onto Aluminum. Physica Status Solidi  A, Berlim, Alemanha, v. 187, n. 1, p. 1-10, 2001.

 

          6       MARTINS, L.f.o.; SELIGMAN, L.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; D'AJELLO, P.c.t.; LOSCH,

                  W.p.; HASENACK, C.m.; PASA, A.a. Eletrodeposicao de Cobre Sobre Si Monocristalino. Revista Brasileira

                  de Aplicações de Vácuo, São Paulo, v. 17, n. 1, p. 52-58, 1998.

 

          7       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m. A Mechanism For Electroless Cu Plating Onto

                  Si. MICROELECTRONIC ENGINEERING, Elsevier - HOLANDA, v. 33, p. 149-155, 1997.

 

          8       MARTINS, L.o.f.; SELIGMAN, L.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; S.G.D.; D'AJELO, P.c.t.;

                  HASENACK, C.m.; PASA, A.a. Electrochemical Evidence Of A Copper-Induced Etching Of N-Type Si In

                  Diluted Hydrofluoric Acid Solutions. JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, ESTADOS

                  UNIDOS, v. 144, n. 5, p. L106-L108, 1997.

 

          9       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARTINS, L.f.o.; D'AJELLO, P.c.t.; PASA, A.a.; HASENACK,

                  C.m. Electroless And Electro-Plating Of Cu Onto Si. MICROELECTRONIC ENGINEERING, Elsevier -

                  HOLANDA, v. 33, p. 59-64, 1997.

 

          10     LOPES, M.c.v.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m.; BARANAUSKAS, V. The

                  Influence Of Si/Sio2 Interface Roughness On Electronic Roughness. JOURNAL OF THE

                  ELECTROCHEMICAL SOCIETY, ESTADOS UNIDOS, v. 143, n. 3, p. 1021-1025, 1996.

 

          11     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m.; SALAY, L.c.; MERTENS, P.w. A Less Critical

                  Cleaning Procedure For Silicon Wafers Using Diluted Hf Dip And Boiling In Isopropyl  Alcohol As Final

                  Steps. JOURNAL OF THE ELECTROCHEMICAL SOCIETY, ESTADOS UNIDOS, v. 142, n. 3, p. 902-907,

                  1995.

 

          12     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; S.G.D.; HASENACK, C.m. Achievement Of High Quality Thin

                  Gate Oxides Grown By Rapid Thermal Oxidation. JOURNAL OF SOLID-STATE DEVICES AND

                  CIRCUITS, BRASIL, v. 3, n. 1, p. 1-9, 1995.

 

          13     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASENACK, C.m.; LOPES, M.c.v.; BARANAUSKAS, V. Rapid

                  Thermal Oxidation Of Silicon With Different Thermal Annealing Cycles In Nitrogen: Influence On Surface

                  Micro-Roughness And Electrical Characteristics. SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY,

                  REINO UNIDO, v. 10, p. 990-996, 1995.

 

          14     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus W. Rapid Thermal flow of PSG films in

                  vacuum using a graphite heater. J Electrochem Soc, Washington DC, v. 137, n. 4, p. 1252-1260, 1990.

 

          15     MARTINO, J.a.; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Projeto de Um Inversor Básico de Uma

                  Tecnologia Nmos Com Carga Em Depleção. Revista Pesquisa & Tecnologia FEI, Faculdade de

                  Engenharia Indust, v. 7, n. 1, p. 52-62, 1987.

 

                  8.1.4 Capítulos de livros publicados

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Eletrônica Experimental (Volume I)  - Fontes de Tensão e

                  Corrente. In: SEABRA, A.c. (Org.). Eletrônica Experimental. São Paulo, 1999, v. 1, p. 75-100.

 

                  8.1.5 Textos em revistas (magazines)

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A tecnologia dos Nanochips: Inovações e Perspectivas. Revista

                  Saber Eletrônica, São Paulo, v. 374, p. 11-17, 01 mar. 2004.

 

          2       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Nanochips: As nanotecnologias e a fabricação desses circuitos

                  ultra-integrados. Revista Saber Eletrônica, São Paulo, v. 373, p. 12-18, 01 fev. 2002.

 

          3       REIS, Ronaldo Willian; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Construção e Caracterização de Diodos

                  N+P com Contatos Al/Ni/TiSi2. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP - Departamento de

                  Engenharia de Sistemas Eletrônicos, São Paulo, v. BT207, p. 1-22, 17 abr. 2003.

 

          4       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Microeletrônica: evolução das tecnologias e panorama atual no

                  Brasil e no Mundo. Saber Eletrônica, São Paulo, v. 366, p. 10-16, 10 jul. 2003.

 

          5       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Microeletrônica: Projeto de CIs digitais e tecnologias CMOS.

                  Saber Eletrônica, São Paulo, v. 367, p. 29-35, 10 ago. 2003.

 

          6       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Microeletrônica: Projeto de processos CMOS e fabricação em

                  Foundries. Saber Eletrônica, São Paulo, v. 368, p. 17-22, 10 set. 2003.

 

          7       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Microeletrônica: tecnologia e cenário mundial. Saber Eletrônica,

                  São Paulo, v. 365, p. 9-14, 10 jun. 2003.

 

          8       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Controle de mesa XY utilizando motor de passo. Mecatrônica

                  Atual, São Paulo, v. 1, p. 28-35, 20 fev. 2002.

 

          9       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Sistema automatizado de comutação de gases e controle de

                  fluxo de massa: aplicação em fornos térmicos. Mecatrõnica Atual, São Paulo, v. 1, p. 18-26, 01 out. 2001.

 

          10     TOQUETTI, Leandro Zeidan; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Obtenção de Oxinitretos de Porta

                  por Processamento Térmico Rápido Visando a Fabricação de Circuitos Integrados MOS. Boletim Técnico

                  da Escola Politécnica da USP - PSI, São Paulo, v. 1, p. 1-21, 15 maio 2000.

 

          11     ARAÚJO, Hugo Puertas de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Simulação, funcional e elétrica, de

                  diodos controlados por porta visando demonstrar a sua aplicabilidade como sensor de radiação luminosa.

                  Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP - PSI, São Paulo, v. 1, p. 1-26, 15 maio 2000.

 

          12     NOGUEIRA, Willian Aurélio; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. A new technique to obtain the MOS

                  gate oxide thickness and Electric breakdown field distributions from Fowler-Nordheim tunneling current.

                  Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP, São Paulo, v. 1, p. 1-20, 14 maio 1999.

 

          13     HASAN, Nasser Mahmoud; LAGANÁ, Armando Antonio Maria; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos.

                  Contribução ao estudo da morfologia da superfície e da interface do siliceto de titânio sobre Si(100)

                  empregando a técnica de microscopia de força atômica. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP,

                  São Paulo, v. 1, p. 1-9, 14 maio 1998.

 

          14     HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Estudo experimental da tensão

                  mecânica em filmes finos de cobre obtidos por evaporação ou deposição eletroquímica expontânea.

                  Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP, v. 1, p. 1-9, 14 maio 1998.

 

          15     SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Analysis of silicon surface

                  microirregularities by LASER light scattering. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP, v. 1, p. 1-8,

                  14 maio 1997.

 

          16     SOUZA, Silvana Gasparotto de; LAGANÁ, Armando Antonio Maria; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes

                  dos. Estudo da influência dos parãmetros de recozimento térmico rápido na morfologia dos filmes de TiSi2

                  formados e sua correlação com a tensão mecãnica. Boletim Técnico da Escola Politécnica da USP, São

                  Paulo, v. 1, p. 1-10, 15 maio 1997.

 

          17     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Um salto de qualidade. IPESI - Eletro-Eletrõnica, São Paulo, v.

                  175, p. 25-26, 01 jan. 1990.

 

                  8.1.6 Demais tipos de produção bibliográfica

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SEABRA, Antonio Carlos; LOBO NETTO, Marcio; NOIJE,

                  Wilhelmus A M Van. Microeletrônica.  São Paulo: Makron Books, 2000. (Tradução/Livro).

 

              8.2 PRODUÇÃO TÉCNICA

 

                  8.2.1 Produtos tecnológicos sem registro ou patente

 

          1       SOUZA FILHO, José Cândido de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Contrução de um rugosímetro

                  a LASER. 1993.

                  8.2.2 Processos ou técnicas sem registro ou patente

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Processo de deposição Eletroquímica de Cobre e Níquel. 2001.

 

          2       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Processos de limpeza química de lâminas de silício. 2001.

 

                  8.2.3 Trabalhos técnicos

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos. Instalação de um equipamento de microscopia de força atômica.

                  1999.

 

              8.3 ORIENTAÇÕES CONCLUÍDAS

 

                  8.3.1 Mestrado

 

          1       NAVIA, Alan Rodrigo. Estudo experimental da deposição autocatalítica de níquel visando a fabricação de

                  microeletrodos e portas MOS. 2002. 120 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. Orientador:

                  Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          2       REIS, Ronaldo Willian. Construção e Caracterização de Diodos N+P com contatos Al/Ni/TiSi2/Si. 2001.

                  150 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Fundação

                  de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          3       TOQUETTI, Leandro Zeidan. Obtenção de Oxinitretos de Porta por Processamento Térmico Rápido

                  Visando a Fabricação de Circuitos Integrados MOSD. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia

                  Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível

                  Superior. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          4       ARAUJO, Hugo Puertas de. Simulação e Caracterização de Diodos Controlados por Porta Visando a

                  Fabricação de Sensores de Radiação Luminosa. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e

                  Tecnológico. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          5       NOGUEIRA, Willian Aurélio. Estudo Experimental da Ruptura da Rigidez Dielétrica Em Óxidos de Porta

                  Crescidos Por Rto. 1999. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de

                  São Paulo, Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior. Orientador: Sebastiao

                  Gomes dos Santos Filho.

 

          6       HASHIMOTO, Alexandre Ichiro. Estudo Experimental da Tensão Mecânica Em Filmes Finos de Cobre

                  Obtidos Por Deposição Eletroquímica Espontânea Sobre Silício. 1998. Dissertação (Mestrado em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento

                  Científico e Tecnológico. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          7       SOUZA FILHO, José Cândido de. Obtenção da Rugosidade Rms de Superfíces Recobertas Com Ouro e

                  Alumínio Utilizando A Técnica de Espalhamento de Luz Laser Hene. 1997. Dissertação (Mestrado em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Coordenação de Aperfeiçoamento de

                  Pessoal de Nível Superior. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

                  8.3.2 Doutorado

 

          1       MARQUES, Angelo Eduardo Battistini. Estudo experimental da deposição química autocatalítica de níquel

                  para aplicações em microeletrônica. 2003. 106 f. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

          2       NOGUEIRA, Willian Aurélio. Obtenção de óxidos de porta MOS ultrafinos: Influência da limpeza química e

                  estudo da ruptura dielétrica. 2003. 202 f. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. Orientador:

                  Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

          3       HASAN, Nasser Mahmoud. Estudo Experimental da Deposição Eletroquímica e Análise do Escalamento

                  Dinâmico da Rugosidade Superficial de Filmes Finos de Cobre. 2002. 122 f. Tese (Doutorado em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento

                  Científico e Tecnológico. Orientador: Sebastiao Gomes dos Santos Filho.

 

 

          9 DADOS COMPLEMENTARES

 

              9.1 PARTICIPAÇÃO EM BANCAS EXAMINADORAS

 

                  9.1.1 Dissertações

 

          1       SWART, Jacobus W; SOUZA, Pablo Rodrigo de; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; DINIZ, José

                  Alexandre. Participação em banca de Pablo Rodrigo de Souza. Estudo do Processo de Fabricação de

                  Diodo Schottky de Potência. 2003. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Universidade

                  Estadual de Campinas.

 

          2       PEREYRA, Inés; ALBERTIN, Katia Franklin; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus

                  W. Participação em banca de Katia Franklin Albertin. Estudo e fabricação de capacitores MOS com

                  camada isolante de SiOxNy depositada por PECVD. 2003. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          3       DOI, Ioshiaki; SANTOS, Regis Eugênio dos; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SWART, Jacobus

                  W; DINIZ, José Alexandre. Participação em banca de Regis Eugênio dos Santos. Investigação sobre a

                  formação e estabilidade térmica dos silicetos de Ni e Ni(Pt) em substratos de Si (100). 2003. Dissertação

                  (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Universidade Estadual de Campinas.

 

          4       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; REIS, Ronaldo Willian; SWART, Jacobus W; MARTINO, João

                  Antonio. Participação em banca de Ronaldo Willian Reis. Construção e Caracterização de Diodos N+P

                  com Contatos Al/Ni/TiSi2/Si. 2001. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo.

 

          5       FERNANDES, Francisco Javier Ramirez; STOLF, Ricardo Germano; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes

                  dos; BIANCO FILHO, Orlando Del. Participação em banca de Ricardo Germano Stolf. Obtenção de filmes

                  de SnO2 com técnicas de baixo custo para aplicação em sensores. 2001. Dissertação (Mestrado em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          6       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; ARAÚJO, Hugo Puertas de; MARTINO, João Antonio; SWART,

                  Jacobus W. Participação em banca de Hugo Puertas de Araújo. Construção e Caracterização de Diodos

                  Controlados por Porta Visando a deteção de radiação luminosa. 2000. Dissertação (Mestrado em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          7       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; NICOLETT, Aparecido Sirley; MARTINO, João Antonio; BRAGA,

                  Nelson de Almeida. Participação em banca de Aparecido Sirley Nicolett. Desenvolvimento de métodos de

                  extração de parâmetros em transistores SOI MOSFET. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia

                  Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          8       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; FERREIRA, Eduardo dos Santos; MORIMOTO, Nilton Itiro;

                  BONEAU, Olivier. Participação em banca de Eduardo dos Santos Ferreira. Estudo e Caracterização de

                  Filmes SIPOS para Passivação de Dispositivos de Potência. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia

                  Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          9       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; FUCKNER, Edson Osvaldo; SARTORELLI, Maria Helena;

                  D'AJELLO, Paulo Cezar. Participação em banca de Edson Osvaldo Fuckner. Nucleação e crescimento de

                  cobre eletrodepositado em silício. 2000. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de

                  Santa Catarina.

 

          10     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; TOQUETTI, Leandro Zeidan; FURLAN, Rogério; VILELA, José

                  Mário Carneiro. Participação em banca de Leandro Zeidan Toquetti. Obtenção de oxinitretos de porta por

                  processamento térmico rápido visando a fabricação de circuitos integrados MOS. 2000. Dissertação

                  (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          11     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; CAMILLO, Luciano Mendes; MARTINO, João Antonio;

                  PAVANELLO, Marcelo Antonio. Participação em banca de Luciano Mendes Camillo. Simulação de

                  dispositivos SOI MOSFETs utilizando SPICE. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          12     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; FORHAN, Neisy Amparo Escobar; BRAGA, Nelson de Almeida;

                  SENNA, José Roberto. Participação em banca de Neisy Amparo Escobar Forhan. Solda Direta de

                  Lâminas SOI com Tecnologia Smart Cut. 2000. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          13     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; NOGUEIRA, Willian Aurélio; SWART, Jacobus W; DINIZ, José

                  Alexandre. Participação em banca de Willian Aurélio Nogueira. Estudo experimental da ruptura da rigidez

                  dielétrica em óxidos de porta MOS crescidos por RTO. 1999. Dissertação (Mestrado em Engenharia

                  Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          14     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; VIANA, Carlos Eduardo; MORIMOTO, Nilton Itiro; BONEAU,

                  Olivier. Participação em banca de Carlos Eduardo Viana. Caracterização Elétrica de filmes finos de

                  SiO2-TEOS depositados por PECVD. 1998. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo.

 

          15     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MUNFORD, Maximiliano Luís; PASA, André Avelino; D`AJELLO,

                  Paulo Cezar. Participação em banca de Maximiliano Luís Munford. Eletrodeposição de filmes finos de

                  cobalto em silício tipo N monocristalino. 1998. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal

                  de Santa Catarina.

 

          16     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; MURANAKA, Carlos Shiniti;

                  PASA, André Avelino. Participação em banca de Alexandre Ichiro Hashimoto. Estudo experimental da

                  tensão mecânica e da morfologia em filmes finos de cobre obtidos por deposição eletroquímica

                  espontânea sobre silício. 1998. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidad

                  de São Paulo.

 

          17     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; FURLAN, Rogério;

                  GOLDSTEIN, Hélio. Participação em banca de Angelo Eduardo Battistini Marques. Estudo da Sinterização

                  de Contatos Al/Ti por Recozimento Térmico Rápido visando Aplicação em Circuitos Integrados. 1997.

                  Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          18     SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SOUZA FILHO, José Cândido de; SWART, Jacobus W;

                  HORIKAWA, Osvaldo. Participação em banca de José  Cândido de Souza Filho. Obtenção da rugosidade

                  RMS de superfícies recobertas com ouro e alumínio utilizando a técnica de espalhamento de luz LASER

                  HeNe. 1997. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

                  9.1.2 Teses

 

          1       FURLAN, Humber; RODRIGUES, Edgar Charry; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; CARRENO,

                  Marcelo; RUBIO, Mário Gongora; FERREIRA, Luiz Otávio S. Participação em banca de Humber Furlan.

                  Desenvolvimento de Membranas para Sensores de Pressão utilizando Freamento Eletroquímico. 2003.

                  Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          2       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; ANDRADE, Marcelo

                  Bariatto Fontes de; CIRINO, Giuseppe A; PASA, André Avelino; VILELA, José Mário C. Participação em

                  banca de Angelo Eduardo Battistini Marques. Estudo Experimental da deposição química autocatalítica de

                  níquel para aplicações em microeletrônica. 2003. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo.

          3       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; NOGUEIRA, Wilian Aurélio; MARTINO, João Antonio;

                  SONNENBERG, Victor; SWART, Jacobus W; DINIZ, José Alexandre. Participação em banca de Wilian

                  Aurélio Nogueira. Obtenção de óxidos de porta MOS ultrafinos: Influência da limpeza química e estudo da

                  ruptura dielétrica. 2003. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São

                  Paulo.

 

          4       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASAN, Nasser Mahmoud; SWART, Jacobus W; COTTA,

                  Monica Alonso; PASA, André Avelino; PEREYRA, Inés. Participação em banca de Nasser Mahmoud

                  Hasan. Estudo Experimental da Deposição Eletroquímica e Análise do Escalamento Dinâmico da

                  Rugosidade Superficial de Filmes Finos de Cobre. 2002. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          5       MARQUES, Angelo Eduardo Battistini; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; FURLAN, Rogério;

                  TANAKA, Deniol. Participação em banca de Angelo Eduardo Battistini Marques. Deposição química de

                  filmes de cobre e níquel e sua aplicação em circuitos integrados. 2001. Tese (Doutorado em Engenharia

                  Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          6       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; BELODI, Marcello; MARTINO, João Antonio; DIRANI, Ely Antonio

                  Tadeu; NICOLETT, Aparecido Sirley; CARDOSO, Álvaro Romanelli. Participação em banca de Marcello

                  Belodi. Estudo das componentes e modelagem das correntes de fuga em dispositivos SOI operando em

                  altas temperaturas. 2001. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São

                  Paulo.

 

          7       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; ZAMBOM, Luís da Silva; FURLAN, Rogério; CARREÑO, Marcelo

                  Nelson Paez; PASA, André Avelino; DINIZ, José Alexandre. Participação em banca de Luís da Silva

                  Zambom. Obtenção de filmes de nitreto de silício por deposição química assistida por plasma acoplada

                  indutivamente. 2000. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          8       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; PAVANELLO, Marcelo Antonio; MARTINO, João Antonio;

                  SWART, Jacobus W; CARDOSO, Alvaro Romanelli; DIRANI, Ely Tadeu. Participação em banca de

                  Marcelo Antonio Pavanello. Projeto, Fabricação e Caracterização Elétrica de uma Nova Estrutura para SOI

                  MOSFET. 2000. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

                  9.1.3 Qualificaçôes de doutorado

 

          1       RODRIGUEZ, Edgar Charry; FURLAN, Humber; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; MARTINO,

                  João Antonio. Participação em banca de Humber Furlan. Desenvolvimento de Membranas e Construção

                  de Sensores de Pressão utilizando Pós-Processamento. 2002. Exame de qualificação (Doutorando em

                  Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          2       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; NOGUEIRA, Willian Aurélio; MARTINO, João Antonio; DINIZ,

                  José Alexandre. Participação em banca de Willian Aurélio Nogueira. Estudo teórico-experimental da

                  obtenção de óxidos e oxinitretos de porta MOS ultra-finos com interfaces ultra-planas. 2002. Exame de

                  qualificação (Doutorando em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          3       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASHIMOTO, Alexandre Ichiro; MORIMOTO, Nilton Itiro;

                  WOLYNEC, Stephan. Participação em banca de Alexandre Ichiro Hashimoto. Aplicação da técnica VPD

                  na medida de contaminações por metal em superfícies de lâminas de silício. 2001. Exame de qualificação

                  (Doutorando em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          4       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; SOUZA FILHO, José Cândido de; MURAMATSU, Mikia;

                  GONÇALVES, Luís. Participação em banca de José Cândido de Souza Filho. Caracterização quantitativa

                  da contaminação por material particulado em superfícies de lâminas de silício utilizando as técnicas de

                  espalhamento de luz LASER e microscopia de força atômica. 2001. Exame de qualificação (Doutorando

                  em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

          5       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; HASAN, Nasser Mahmoud; PASA, André Avelino. Participação

                  em banca de Nasser Mahmoud Hasan. Estudo da nucleação inicial em filmes de cobre depositados

                  eletroquimicamente. 2000. Exame de qualificação (Doutorando em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo.

 

          6       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; BELLODI, Marcelo; MARTINO, João Antonio; BRAGA, Nelson de

                  Almeida. Participação em banca de Marcelo Bellodi. Modelagem de Transistores SOI MOS operando em

                  altas temperaturas. 2000. Exame de qualificação (Doutorando em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo.

 

          7       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; VIANA, Carlos Eduardo; MORIMOTO, Nilton Itiro; BONEAU,

                  Olivier. Participação em banca de Carlos Eduardo Viana. Estudo e desenvolvimento de uma tecnologia

                  CMOS-TFT à baixa temperatura. 1999. Exame de qualificação (Doutorando em Engenharia Elétrica

                  [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

 

                  9.1.4 Trabalhos de Conclusão de Curso de Graduação

 

          1       SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos; ARAÚJO, Hugo Puertas de; BRAGA, Nelson de Almeida; CHAU,

                  Wang Jiang. Participação em banca de Hugo Puertas de Araújo. Projeto de um conjunto de máscaras,

                  simulação do dispositivo com o programa MINIMOS e fabricação de diodos controlados por porta com

                  diferentes geometrias. 1997. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação em Engenharia Elétrica Sp

                  Capital) - Universidade de São Paulo.

 

                  9.1.5 Outros tipos

 

          1       PEREYRA, Inés; ALBERTIN, Kátia Franklin; ALAYO, Marco; SANTOS FILHO, Sebastiao Gomes dos.

                  Participação em banca de Kátia Franklin Albertin. Estudo e fabricação de capacitores MOS com camada

                  isolante de SiOxNy depositados por PECVD. 2002. Outra participação (Pós Graduação Em Engenharia

                  Elétrica Sp Capital) - Universidade de São Paulo.

 

              9.2 PARTICIPAÇÃO EM BANCAS DE COMISSÕES JULGADORAS

 

                  9.2.1 Outras participações

 

          1       Seleção de Técnico de Laboratório junto ao Departamento de Engenharia de Sistemas Eletrônicos da

                  EPUSP. 2002. , Universidade de São Paulo.

 

              9.3 PARTICIPAÇÃO EM EVENTOS

 

          1       19th Symposium on Microelectronics Technology and Devices - SBMicro 2004. 2004. (Participações em

                  eventos/Simpósio).

 

          2       I Worshop de Graduação da Grande Área Elétrica da Escola Politécnica da USP. 2004. (Participações em

                  eventos/Encontro).

 

          3       IberSensor 2000 - 2nd IberoAmerican Conference on Sensors. 2000. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          4       III Workshop de microeletrônica e microssistemas do LSI. 2000. (Participações em eventos/Congresso).

 

          5       ICMP99 - Internacional Conference on Microelectronics and Packaging. 1999. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          6       Escola de Óptica Aplicada. 1998. (Participações em eventos/Simpósio).

 

          7       12th Congress of the Brazilian Microelectronics Society. 1997. (Participações em eventos/Congresso).

 

          8       A electroless mechanism of Cu plating onto Si during HF-last cleanings. 1996. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          9       Segundo Workshop IBERCHIP. 1996. (Participações em eventos/Simpósio).

 

          10     10th Congress of the Brazilian Microelectronics Society/ 1st Ibero American Microelectronics Conference.

                  1995. (Participações em eventos/Congresso).

 

          11     First Brazilian/German Workshop on Applied Surface Science. 1995. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          12     The deposition and removal of surface contaminants from silicon wafers by means of a diluted HF dip

                  followed or not by an isopropyl alcohol boil. 1994. (Participações em eventos/Congresso).

 

          13     The cleaning of silicon wafers with hot isopropyl alcohol and distilled water as final steps. 1993.

                  (Participações em eventos/Congresso).

 

          14     Obtenção de camadas ultra-finas de óxido de silício por oxidação térmica rápida. 1992. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          15     Use of the charge pumping technique for the evaluation of MOSFET degradation due to the stress in te

                  silicide/polysilicon double layer. 1990. (Participações em eventos/Congresso).

 

          16     An experimenta MeasurementTechnique of Interconnection RC Delay for Integrated Circuits. 1989.

                  (Participações em eventos/Congresso).

 

          17     European Workshop on Refractory Metals and Silicides. 1989. (Participações em eventos/Congresso).

 

          18     IV Congresso da sociedade Brasileira de Microeletrônica. 1989. (Participações em eventos/Congresso).

 

          19     Aplicação de filmes de siliceto de titânio na fabricação de transistores nMOS. 1988. (Participações em

                  eventos/Congresso).

 

          20     Escoamento de filmes de PSG por processamento térmico rápido em ambiente de vácuo. 1987.

                  (Participações em eventos/Congresso).

 

          21     Estudo experimental da densificação e do escoamento de camadas de PSG utilizando processamento

                  térmico rápido. 1986. (Participações em eventos/Congresso).

 

          22     V Simpósio Brasileira de Microeletrônica. 1985. (Participações em eventos/Simpósio).

 

          23     Características C X V de capacitores MOS. 1984. (Participações em eventos/Congresso).

 

          24     Influência da resistência série na curva característica capacitância-tensâo de capacitores MOS. 1984.

                  (Participações em eventos/Simpósio).

 

          25     Otimização dos parâmetros elétricos e geométricos de dispositivos nMOS ocm carga em depleção. 1983.

                  (Participações em eventos/Simpósio).

 

          26     II Simpósio Brasileiro de Microeletrônica. 1982. (Participações em eventos/Simpósio).

 

              9.4 ORIENTAÇÕES EM ANDAMENTO

 

                  9.4.1 Mestrado

 

          1       GOZZI, Giuliano. Análise do Escalamento dinâmico de superficies de cobre obtidas por deposição

                  eletroquímica. Início:2003. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de

                  São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico. (Orientador).

          2       PESTANA, Ricardo. Caracterização elétrica de contatos rasos de siliceto de níquel sobre junções N+P e

                  P+N. Início:2003. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São

                  Paulo. (Orientador).

 

          3       SOUZA, Ricardo de. Modelagem da ruptura da rigidez dielétrica em óxidos de porta MOS ultrafinos.

                  Início:2003. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo.

                  (Orientador).

 

          4       GAVIOLI, Marcelo de Carvalho. Projeto, construção e caracterização de fluxímetros. Início:1998.

                  Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo. (Orientador).

 

                  9.4.2 Doutorado

 

          1       NAVIA, Alan Rodrigo. Estudo teórico-experimental da obtenção de nanofios de Cu/Ni. Início:2002. Tese

                  (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de

                  Desenvolvimento Científico e Tecnológico. (Orientador).

 

          2       REIS, Ronaldo Willian. Estudo de Contatos Rasos de Siliceto de Níquel sobre Junções N+P e P+N.

                  Início:2001. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São Paulo,

                  Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. (Orientador).

 

          3       TOQUETTI, Leandro Zeidan. Estudo teórico-Experimental da Obtenção de Oxinitretos de Silício de Porta

                  MOS Ultrafinos. Início:2000. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São

                  Paulo, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. (Orientador).

 

          4       ARAUJO, Hugo Puertas de. Microssistema Integrado de Aquisição de Imagens Sensível ao Estado de

                  Polarização da Luz. Início:2000. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de

                  São Paulo, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. (Orientador).

 

          5       HASHIMOTO, Alexandre Ichiro. Aplicação da técnica VPD na medida de contaminações por em metal em

                  superfícies de lâminas de silício. Início:1998. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) -

                  Universidade de São Paulo, Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico.

                  (Orientador).

 

          6       SOUZA FILHO, José Cândido de. Caracterização quantitativa da contaminação por material particulado

                  em superfícies de lâminas de silício utilizando técnicas de espalhamento de luz LASER e microscopia de

                  força atômica. Início:1997. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica [Sp-Capital]) - Universidade de São

                  Paulo, Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo. (Orientador).

 

 

          10 INDICADORES DE PRODUÇÃO

 

                      Produção bibliográfica - 142

 

                                  Artigos publicados em periódicos - 15

                                              Completos - 15

 

                                  Trabalhos em eventos - 108

                                              Completos - 63

                                              Resumos - 45

 

                                  Livros e capítulos - 1

                                              Capítulos de livros publicados - 1

 

                                  Textos em jornais ou revistas (magazines) - 17

                                              Revistas (Magazines) - 17

 

                                  Demais tipos de produção bibliográfica - 1

                      Produção técnica - 4

 

                                  Produtos tecnológicos - 1

                                              Produtos tecnológicos sem registro ou patente - 1

 

                                  Processos ou técnicas - 2

                                              Processos ou técnica sem registro ou patente - 2

 

                                  Trabalhos técnicos - 1

 

                      Orientações concluídas - 10

 

                                  Dissertações de mestrado - 7

                                              Orientador principal - 7

 

                                  Teses de doutorado - 3

                                              Orientador principal - 3

 

                      Dados complementares - 72

 

                                  Participaçôes em banca de trabalhos de conclusão - 35

 

                                  Participaçôes em banca de comissões julgadoras - 1

 

                                  Participações em eventos - 26

 

                                  Orientaçôes em andamento - 10